(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210975176.3 (22)申请日 2022.08.12 (71)申请人 西安电子科技大 学 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号 (72)发明人 张依轩　翦璋　焦永昌　张玉　 赵勋旺　 (74)专利代理 机构 陕西电子 工业专利中心 61205 专利代理师 陈宏社　王品华 (51)Int.Cl. G06F 30/20(2020.01) G06F 17/16(2006.01) (54)发明名称 基于等效源法的线性阵列天线单切面近场 测量方法 (57)摘要 本发明提出了一种基于等效源法的线性阵 列天线单切面近场测量方法， 实现步骤为： 获取 线性阵列天线工作频率点的近场电场信号； 构建 等效源模型； 获取关联系数矩阵； 获取等效源基 函数系数向量； 获取线性阵列天线单切面的近场 测量结果。 本发 明所构建的等效源模 型为包括中 心位于平面直角坐标系原点且沿线阵天线线性 排列的M个等效源点的模型， 相比于现有技术由 线性等效源模型计算的关联系数矩 阵所含元素 更少， 且在求解等效源基函数系数的计算中只需 要进行向量与矩阵的计算， 避免了现有技术采用 平面等效源模型导致的需要进行复杂矩 阵计算 的缺陷， 有效提高了测量效率。 权利要求书2页 说明书4页 附图2页 CN 115358061 A 2022.11.18 CN 115358061 A 1.一种基于等效源法的线性阵列天线单切面近场测量方法， 其特征在于， 包括以下步 骤： (1)获取线性阵列天线工作频率 点的近场电场信号： (1a)初始化中心位于平面直角坐标系原点且沿Y方向排列的线阵天线的工作频率点为 f0， f0对应的波长 λ0， 线性阵列天线长度为d； (1b)在频率点f0下对线性阵列天线的近场区域 分别进行C次近场采样， 得到离散电场信 号向量UC×1＝{U1,U2,...,Uc,...,UC}， 其中， Uc表示第c个坐标为(xc,yc)的采样点对应的离 散电场信号， c∈{1,2,. ..,C}； (2)构建等效源 模型： 构建包括中心位于平面直角坐标系原点且沿Y方向线性排列的M个等效源点的等效源 模型， 相邻等效源点之间的间距为Δλ0， 第m个等效源点的坐标为( x'm,y'm)， 其中Δλ0≥ 0.001λ0， m∈{1,2,. ..,M}， 表示向上 取整； (3)获取关联系数矩阵： (3a)通过每个采样点的坐标(xc,yc)和每个等效源点的坐标(x'm,y'm)计算每个等效源 点到每个采样点的距离Rc,m； (3b)通过每个等效源点到每个采样点的距离Rc,m和关联基函数Λm(x,y)计算关联系数 Ac,m， 并将所有关联系数Ac,m组合为维度 为C×M的关联系数矩阵AC×M， 其中关联系数Ac,m的计 算公式为： 其中 表示以Sm为边界的二重积分， e表示自然对数， Λm(x,y)表示在X轴和Y轴的自 变量坐标分别为x， y的第m个关联基函数， Sm表示Λm(x,y)的分布区域； (4)获取等效源基函数系数向量： 采用矩量法， 并通过频率点f0下的离散电场信号向量UC×1与关联系数矩阵AC×M计算等效 源基函数系数向量JM×1； (5)获取线性阵列天线单切面的近场测量结果： 对等效源 基函数系数向量JM×1进行远场外推， 得到极坐 标轴下以 为角度坐 标的中心工 作频率点单切面远场方向图 其中， Jm表示等效源基函数系数向量JM×1中的第m个等效源基函数系数。 2.根据权利要求1所述的基于等效源法的线性阵列天线单切面近场测量方法， 其特征 在于， 步骤(3a)中所述的每 个等效源点到每 个采样点的距离Rc,m， 计算公式为：权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115358061 A 23.根据权利要求1所述的基于等效源法的线性阵列天线单切面近场测量方法， 其特征 在于， 步骤(3b)中所述的关联基函数Λm(x,y)， 其表达式为： 4.根据权利要求1所述的基于等效源法的线性阵列天线单切面近场测量方法， 其特征 在于， 步骤(4)中所述的计算 等效源基函数系数向量JM×1， 计算公式为： UC×1＝AC×MJM×1权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115358061 A 3