ICS31.200 CCS L56 中 华 人 民 共 和 国 汽 车 行 业 标 准 QC/TXXXXX—XXXX 汽车底盘控制芯片技术要求及试验方法 Technicalrequirementsand testmethods ofautomotive chassiscontrolchip （报批稿） XXXX -XX- XX 发布 XXXX- XX- XX 实施 中华人民共和国工业和信息化部   发 布QC/T XXXXX —XXXX I目 次 前言 .................................................................................. II 1 范围 ................................................................................. 1 2 规范性引用文件 ....................................................................... 1 3 定义和术语 ........................................................................... 2 4 符号和缩略语 ......................................................................... 2 5 技术要求 ............................................................................. 3 5.1 功能要求 ......................................................................... 3 5.2 性能要求 ......................................................................... 3 5.3 电气特性要求 ..................................................................... 5 5.4 可靠性要求 ....................................................................... 6 5.5 电磁兼容性要求 ................................................................... 8 5.6 安全要求 ......................................................................... 9 6 试验方法 ............................................................................ 11 6.1 功能试验 ........................................................................ 11 6.2 性能试验 ........................................................................ 13 6.3 电气特性试验 .................................................................... 19 6.4 可靠性试验 ...................................................................... 21 6.5 电磁兼容试验 .................................................................... 21 6.6 安全性试验 ...................................................................... 23 附录 A（规范性）环境及可靠性试验方法 ...................................................26 附录 B（资料性）控制芯片典型失效模式示例 ...............................................60 附录 C（资料性）控制芯片故障注入方法示例 ...............................................63QC/T XXXXX —XXXX II前  言 本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起 草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由全国汽车标准化技术委员会（SAC/TC 114）提出并归口。 本文件起草单位：上海芯钛信息科技有限公司、奇瑞汽车股份有限公司、上海汽车集团股份有限公 司、东风汽车集团有限公司、博世华域转向系统有限公司、上海汇众汽车制造有限公司、北京奥特尼克 科技有限公司、中国汽车技术研究中心有限公司、中汽研科技有限公司、北京国家新能源汽车技术创新 中心有限公司、比亚迪汽车工业有限公司、深圳引望智能技术有限公司、紫光同芯微电子有限公司、北 京理想汽车有限公司。 本文件主要起草人：李澜涛、田喆、冯华、高家兵、刘慧建、张成宝、刘仁龙、吴罡、雷鹏、陆劲 锋、吴世保、邱海漩、巫雨帆、施国标、李铮、董长青、夏显召、吴倩、刘英、刘源、何弯、周平、岳 少鹏、宋占坤、张祥、李嘉和、陈赛华、刘奕辉、张占伟。 本文件为首次发布。QC/T XXXXX —XXXX 1汽车底盘控制芯片技术要求及试验方法 1 范围 本文件规定了汽车底盘系统控制芯片的基本要求，描述了相应的试验方法。 本文件适用于汽车底盘系统控制芯片。 2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。 其中， 注日期的引用文件， 仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本 文件。 GB/T 4937.4—2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST） GB/T 4937.12—2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动 GB/T 4937.14—2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分：引出端强度（引线牢固性） GB/T4937.26—2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人 体模型（HBM） GB/T 17574—1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 34590.2—2022 道路车辆 功能安全 第2部分：功能安全管理 GB/T 34590.3—2022 道路车辆 功能安全 第3部分：概念阶段 GB/T 34590.4—2022 道路车辆 功能安全 第4部分：产品开发：系统层面 GB/T 34590.5—2022 道路车辆 功能安全 第5部分：产品开发：硬件层面 GB/T 34590.6—2022 道路车辆 功能安全 第6部分：产品开发：软件层面 GB/T 34590.7—2022 道路车辆 功能安全 第7部分：生产、运行、服务和报废 GB/T 34590.8—2022 道路车辆 功能安全 第8部分：支持过程 GB/T34590.9—2022 道路车辆 功能安全 第9部分：以汽车安全完整性等级为导向和以安全为导向 的分析 GB/T 35003—2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法 GB/T 36477—2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法 GB/T 36479—2018 集成电路 焊柱阵列试验方法 GB/T 42968.1—2023 集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义 GB/T 45718 半导体器件 内部金属层间的时间相关介电击穿（TDDB）试验 GB/T 45719 半导体器件 金属氧化物半导体（MOS） 晶体管的热载流子试验 GB/T 45720 半导体器件 栅介质层的时间相关介电击穿（TDDB）试验 GB/T 45721.1 半导体器件 应力迁移试验 第1部分：铜应力迁移试验 GB/T 45722 半导体器件 恒流电迁移试验 GB/T XXXX.1 集成电路 电磁发射测量 第1部分：通用条件和定义 GB/T XXXX—XXXX 车辆集成电路电磁兼容试验通用规范 IEC 60748-4-3:2006 半导体器件 集成电路 第4-3部分:接口集成电路 模拟数字转换器（ADC） （Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4-3: Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)） IEC 60749-3 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分 外观检查（Semiconductor devices - Mechani