(19)中华 人民共和国 国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202111274285.4 (22)申请日 2021.10.2 9 (71)申请人 深圳明锐理想科技有限公司 地址 518000 广东省深圳市光明区凤 凰街 道凤凰社区观光路招商局光明科技园 B4栋B单元6层 (72)发明人 余标　黎凯中　朱鹏程　 (74)专利代理 机构 深圳市六加知识产权代理有 限公司 4 4372 代理人 孟丽平 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 5/00(2006.01) G06N 20/00(2019.01) (54)发明名称 一种印制电路板的检测方法、 装置及检测设 备 (57)摘要 本发明涉及一种印制电路板的检测方法、 装 置、 检测设备及存储介质。 本发明实施例提供一 种印制电路板的检测方法、 装置、 检测设备及存 储介质， 能够通过图像采集装置获取待检测的印 制电路板的测试图像， 其中， 测试图像中包括多 个基准点； 以及， 能够确定测试图像对应的标准 图像， 并根据标准图像和测试图像确定基准点的 偏移量， 根据偏移量调整测试图像相对于标准图 像的位置， 从而减小测试图像与标准图像 之间的 偏差； 由于调整位置后的测试图像与标准图像 之 间的偏差减小， 将调整位置后的测试图像和标准 图像进行比对可以更加精确地获取印制电路板 的检测结果。 权利要求书2页 说明书9页 附图4页 CN 114022436 A 2022.02.08 CN 114022436 A 1.一种印制电路板的检测方法， 应用于检测设备， 其特 征在于， 所述方法包括： 通过图像采集装置采集待检测的印制电路板的测试图像， 所述测试图像包括多个基准 点元件； 确定与所述测试图像对应的标准图像， 所述标准图像包括多个 基准点； 根据所述标准图像和所述测试图像确定所述元件相对于所述基准 点的偏移量； 根据所述偏移量调整所述测试图像相对于标准图像的位置； 基于所述标准图像和调整位置后的所述测试图像对所述当前印制电路板进行检测。 2.根据权利要求1所述的印制电路板的检测方法， 其特征在于， 所述根据 所述标准图像 和所述测试图像确定所述基准 点的偏移量， 包括： 确定所述测试图像中所述基准 点所在的区域； 获取所述基准 点所在的区域的图像； 根据所述标准图像、 所述测试图像和所述基准点所在的区域的图像确定所述基准点的 偏移量。 3.根据权利要求2所述的印制电路板的检测方法， 其特征在于， 所述确定所述测试图像 中所述基准 点所在的区域， 包括： 若所述测试图像中存在与 所述标准图像相匹配的基准点， 且所述基准点与 所述标准图 像的匹配度不小于预设阈值， 则根据所述基准 点确定所述基准 点所在的区域。 4.根据权利要求1所述的印制电路板的检测方法， 其特征在于， 所述当前印制电路板设 置有预设标识， 所述基于所述标准图像和调整位置后的所述测试图像对所述当前电路板进 行检测之前， 所述方法还 包括： 预先建立所述预设标识与印制电路板的检测程式之间的映射关系； 读取所述预设标识； 基于所述映射关系调用所述预设标识对应的检测程式， 所述检测程式包括用于对所述 印制电路板进行检测的测试参数。 5.根据权利要求1 ‑4任一项所述的印制电路板的检测方法， 其特征在于， 所述确定所述 测试图像对应的预设的标准图像， 包括： 将所述测试图像输入预先设置的标准图像获取模型， 以输出所述测试图像对应的标准 图像。 6.根据权利要求5所述的印制电路板的检测方法， 其特征在于， 所述将所述测试图像输 入预先设置的标准图像获取模型之前， 所述方法还 包括： 训练标准图像获取模型； 所述训练标准图像获取模型， 包括： 选取历史测试图像中作为基准 点的基准 点元件， 并对所述基准 点元件进行 标注； 使用预设机器学习模型进行标准图像获取训练， 在标准图像获取训练的过程中， 调整 所述机器学习模型的模型参数至所述预设机器学习模型输出的标准图像与输入的标注后 的所述历史测试图像相匹配； 将当前模型参数对应的机器学习模型作为所述标准图像获取模型。 7.根据权利要求6所述的印制电路板的检测方法， 其特征在于， 所述历史测试图像 中的 基准点元件包括非检测元件， 且所述历史测试图像中的预设范围内的基准 点元件不同。 8.一种检测装置， 应用于检测设备， 其特 征在于， 所述检测装置包括：权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114022436 A 2获取模块， 所述获取模块用于通过图像采集装置获取当前印制电路板的测试图像， 所 述测试图像包括多个元件； 第一确定模块， 所述第一确定模块用于确定与所述测试图像对应的标准图像， 所述标 准图像包括多个 基准点； 第二确定模块， 所述第 二确定模块用于根据 所述标准图像和所述测试图像确定所述基 准点的偏移量； 调整模块， 所述调整模块用于根据所述偏移量调整所述测试图像的位置； 检测模块， 所述检测模块用于基于调整位置后的所述测试图像对所述当前印制电路板 进行检测。 9.一种检测设备， 其特 征在于， 所述检测设备包括： 至少一个处 理器； 和 与所述至少一个处 理器通信连接的存 储器； 其中， 所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令， 所述指令被所述至少一个处 理器执行， 以使所述至少一个处 理器能够执 行如权利要求1 ‑7任一项所述的方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114022436 A 3