(19)国家知识产权局 (12)发明 专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202210203559.9 (22)申请日 2022.03.03 (65)同一申请的已公布的文献号 申请公布号 CN 114264669 A (43)申请公布日 2022.04.01 (73)专利权人 武汉精立电子技 术有限公司 地址 430205 湖北省武汉市东湖新 技术开 发区流芳园南路2 2号 专利权人 武汉精测电子集团股份有限公司 (72)发明人 毛涌　王雷　李渊　江宝焜　 (74)专利代理 机构 武汉智权专利代理事务所 (特殊普通 合伙) 42225 专利代理师 张凯 (51)Int.Cl. G01N 21/95(2006.01) G01N 21/01(2006.01)(56)对比文件 CN 111612781 A,2020.09.01 CN 109520710 A,2019.0 3.26 CN 113785181 A,2021.12.10 CN 107024 485 A,2017.08.08 CN 105424710 A,2016.0 3.23 US 5650844 A,1997.07.22 JP 2008224331 A,2008.09.25 US 4153336 A,1979.0 5.08 Lingfeng Ko ng et al.Detecti on of Water-stai ns Defects i n TFT-LCD Based o n Machine Vision. 《2018 1 1th Internati onal Congress on Image and Signal Proces sing, BioMedical Engi neering and I nformatics》 .2018, 高如新等.基于图像处 理的手机屏幕缺陷检 测系统研究. 《测控技 术》 .2017,第3 6卷(第4期), 审查员 张煜欣 (54)发明名称 屏幕损伤缺陷检测方法、 装置、 设备及可读 存储介质 (57)摘要 本申请涉及一种屏幕损伤 缺陷检测方法、 装 置、 设备及可读存储介质， 涉及屏幕缺陷检测技 术领域， 包括获取第一图像和第二图像， 第一图 像为屏幕在视觉光源下被拍摄的图像， 第二图像 为屏幕自发光后被拍摄的图像； 分别对第一图像 和第二图像进行可疑缺陷区域的标识处理， 得到 处理后的第一图像和第二图像； 将处理后的第二 图像映射至处理后的第一图像上， 在处理后的第 一图像上提取与处理后的第二图像上的可疑缺 陷区域存在交集的第一可疑缺陷区域； 当检测到 第一可疑缺陷区域的特征值大于预设的目标缺 陷特征阈值时， 则第一可疑缺陷区域为目标缺 陷。 本申请不仅可提高对缺陷的提取精度， 还可 有效降低检测难度和成本并缩短检测耗时。 权利要求书2页 说明书9页 附图3页 CN 114264669 B 2022.05.17 CN 114264669 B 1.一种屏幕损伤缺陷检测方法， 其特 征在于， 包括以下步骤： 获取第一图像和第二图像， 所述第一图像为待测屏幕在视觉光源下被拍摄的图像， 所 述第二图像为待测屏幕自发光后被拍摄的图像； 分别对所述第 一图像和所述第 二图像进行可疑缺陷区域的标识 处理， 得到处理后的第 一图像和处 理后的第二图像； 将所述处理后的第 二图像映射至所述处理后的第 一图像上， 在所述处理后的第 一图像 上提取与所述处 理后的第二图像上的可疑缺陷区域存在交集的第一可疑缺陷区域； 当检测到第 一可疑缺陷区域的特征值大于预设的目标缺陷特征阈值 时， 则所述第 一可 疑缺陷区域 为目标缺陷。 2.如权利要求1所述的屏幕损伤缺陷检测方法， 其特征在于， 对所述第 一图像进行可疑 缺陷区域的标识处 理， 得到处 理后的第一图像， 包括： 对所述第一图像中的各个白色区域进行提取， 得到多个第一区域； 对所述多个第一区域进行闭运算， 得到第二区域， 并对所述第二区域进行随机打散处 理， 得到多个第二子区域； 基于预设的目标缺陷特征信 息从多个第 二子区域筛选出存在可疑的第 二子区域， 将存 在可疑的第二子区域作为可疑缺陷区域； 在所述第一图像进行 可疑缺陷区域的标识， 得到处 理后的第一图像。 3.如权利要求1所述的屏幕损伤缺陷检测方法， 其特征在于， 对所述第 二图像进行可疑 缺陷区域的标识处 理， 得到处 理后的第二图像， 包括： 对均值滤波处 理后的第二图像中的各个白色区域进行提取， 得到多个第三区域； 对所述多个第三区域进行闭运算， 得到第 四区域， 并对所述第 四区域进行随机打散处 理， 得到多个第四子区域； 基于预设的目标缺陷特征信 息从多个第四子区域筛选出存在可疑的第四子区域， 将存 在可疑的第四子区域作为可疑缺陷区域； 在所述第二图像进行 可疑缺陷区域的标识， 得到处 理后的第二图像。 4.如权利要求1所述的屏幕损伤缺陷检测方法， 其特征在于， 所述将所述处理后的第 二 图像映射至所述处 理后的第一图像上， 包括： 分别对所述处理后的第一图像和所述处理后的第二图像进行同比例的转正和缩放处 理， 并将所述处 理后的第二图像映射至所述处 理后的第一图像上。 5.如权利要求1所述的屏幕损伤缺陷检测方法， 其特征在于： 所述待测屏幕为Micro   LED屏幕或Mini  LED屏幕， 所述目标缺陷为BPR损 伤缺陷， 所述预设的目标缺陷特征阈值包 括面积特征阈值和距离特征阈值， 所述距离特征阈值为BPR损伤缺陷的中心点与待测屏幕 的中心点间所允许的最大间距。 6.如权利要求5所述的屏幕损伤缺陷检测方法， 其特征在于， 所述当检测到第 一可疑缺 陷区域的特征值大于预设的目标缺陷特征阈值时， 则所述第一可疑缺陷区域为目标缺陷， 包括： 当检测到第一可疑缺陷区域的面积特征值大于面积特征阈值且第一可疑缺陷区域的 距离特征值大于距离特 征阈值时， 所述第一可疑缺陷区域 为目标缺陷； 当检测到第一可疑缺陷区域的面积特征值小于或等于面积特征阈值或第一可疑缺陷权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114264669 B 2区域的距离特 征值小于或等于距离特 征阈值时， 所述第一可疑缺陷区域 为非目标缺陷。 7.如权利要求1所述的屏幕损伤缺陷检测方法， 其特征在于： 所述视觉光源为同轴光 源。 8.一种屏幕损伤缺陷检测装置， 其特 征在于， 包括： 获取单元， 其用于获取第一图像和第二图像， 所述第一图像为待测屏幕在视觉光源下 被拍摄的图像， 所述第二图像为待测屏幕自发光后被拍摄的图像； 处理单元， 其用于分别对所述第一图像和所述第二图像进行可疑缺陷区域的标识处 理， 得到处理后的第一图像和处理后的第二图像； 将所述处理后的第二图像映射至所述处 理后的第一图像上， 在所述处理后的第一图像上提取与所述处理后的第二图像上的可疑缺 陷区域存在交集的第一可疑缺陷区域； 检测单元， 其用于当检测到第 一可疑缺陷区域的特征值大于预设的目标缺陷特征阈值 时， 则所述第一可疑缺陷区域 为目标缺陷。 9.一种屏幕损伤缺陷检测设备， 其特征在于， 包括： 存储器和 处理器， 所述存储器中存 储有至少一条指令， 所述至少一条指令由所述处理器加载并执行， 以实现权利要求1至7中 任一项所述的屏幕损伤缺陷检测方法。 10.一种计算机可读存储介质， 其特征在于： 所述计算机存储介质存储有计算机程序， 当所述计算机程序被处理器执行时， 以实现权利要求 1至7中任一项 所述的屏幕损伤缺陷检 测方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114264669 B 3