(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211212771.8 (22)申请日 2022.09.30 (71)申请人 中国科学院长春光学精密机 械与物 理研究所 地址 130033 吉林省长 春市经济技 术开发 区东南湖大路38 88号 (72)发明人 付柯楠　石宝松　闫春影　 (74)专利代理 机构 长春中科长光知识产权代理 事务所(普通 合伙) 22218 专利代理师 陈陶 (51)Int.Cl. G01R 31/12(2006.01) G01D 21/02(2006.01) (54)发明名称 一种电子元器件的耐压测试系统 (57)摘要 本发明涉及电子元器件测试领域， 具体提供 了一种电子元器件的耐压测试系统， 包括测试工 装、 高压电源、 控制器、 温度传感器、 湿度传感器、 电压变换器、 采集卡和上位机； 测试工装用于固 定被测元器件； 高压电源用于接收控制器的控制 信号； 温度传感器、 湿度传感器用于将环境温度、 湿度信息转换为电信号后发送给控制器； 电压变 换器用以将高压电源输出的电压衰减为低压； 采 集卡用以采集经电压变换器转换的电压数据； 上 位机用以进行高压电源控制、 温湿度实时监控、 数据采集和数据存储。 本发明中的测试系统可对 电子元器件进行耐压测试， 满足电子元器件二次 筛查的测试 数据记录、 存 储和比对需求。 权利要求书1页 说明书4页 附图1页 CN 115389886 A 2022.11.25 CN 115389886 A 1.一种电子元器件的耐压测试系统， 其特征在于， 所述测试系统包括测试工装、 高压电 源、 控制器、 温度传感器、 湿度传感器、 电压变换器、 采集 卡和上位机； 所述测试工装用于固定被测元器件并将被测元器件与高压电源电连接； 所述高压电源与控制器电连接并接收控制器的控制信号； 所述温度传感器、 湿度传感器均与控制器电连接并用于将环境温度、 湿度信息发送给 控制器； 所述电压变换器与高压电源电连接并用以将高压电源输出的电压 衰减为低压； 所述采集 卡与电压变换器电连接并用以采集经电压变换器转换的电压数据； 所述上位机同时与控制器和采集卡电连接并用以进行高压电源控制、 温湿度实时监 控、 数据采集和数据存 储。 2.根据权利要求1所述的电子元器件的耐压测试系统， 其特征在于， 所述测试工装包括 夹持件和接线柱； 所述夹持件用于夹持固定被测元器； 所述接线柱用以将被测元器件的待 测管脚引出， 并通过导线从接线柱处将待测管脚连接 至高压电源的输出端。 3.根据权利要求2所述的电子元器件的耐压测试系统， 其特征在于， 所述上位机包括控 制模块、 显示模块、 通讯模块和存储模块； 所述控制模块用以接收测试人员的控制指 令并将 指令分发至控制 器或采集卡； 所述显示模块以人机交互界面的方式供测试人员使用； 所述 通讯模块用以与控制器及采集卡进行通讯； 所述存储模块用以存储采集卡所采集的电压数 据。 4.根据权利要求3所述的电子元器件的耐压测试系统， 其特征在于， 所述上位机与控制 器通过RS232进行连接， 控制器接收测试人员自上位机发送的控制指令并对高压电源进行 控制。 5.根据权利要求4所述的电子元器件的耐压测试系统， 其特征在于， 所述高压电源和控 制器通过GPIO及RS232进行连接， 高压电源的工作状态信息通过RS232总线返回至控制器并 由控制器发送至上位机供测试 人员监控。 6.根据权利要求5所述的 电子元器件的耐压测试系统， 其特征在于， 所述温度传感器、 湿度传感器与控制器通过RS232进行连接， 温度传感器和 湿度传感器分别将环境温度和环 境湿度转换为电信号并将电信号数字化后通过RS232总线发送至控制器， 控制器对电信号 进行处理并将环境温度和湿度数据发送给 上位机以进行显示。 7.根据权利要求1 ‑6中任一项所述的电子元器件的耐压测试系统， 其特征在于， 所述电 压变换器的输入引脚通过耐 高压同轴线与高压电源的输出端并联； 电压变换器具有隔离功 能， 电压变换器的输入接口具有高输入阻抗。 8.根据权利要求7所述的电子元器件的耐压测试系统， 其特征在于， 所述电压变换器的 输出引脚与采集卡的输入引脚同轴线连接； 所述采集卡与上位机通过以太网口进行连接， 电压变换器输出的电压由采集 卡实时采集并由以太网口将所采集数据发送至上位机 。 9.根据权利要求8所述的电子元器件的耐压测试系统， 其特征在于， 所述人机交互界面 通过触控或按键控制的方式下发测试指令且可显示测试信息、 指令反馈信息和警报信息 。 10.根据权利要求9所述的电子元器件的耐压测试系统， 其特征在于， 所述高压电源的 高压输出与关闭、 高压脉冲的输出、 高压 输出脉冲的宽度由控制器进行控制。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 115389886 A 2一种电子元器件的耐压测试系统 技术领域 [0001]本发明涉及电子元器件测试技术领域， 尤其涉及一种电子元器件的耐压测试系 统。 背景技术 [0002]随着科技的不断进步， 电子元器件作为电子产品及大、 小型机械设备和仪器中不 可或缺的重要组成部分， 得到了越来越广泛的应用， 电子元器件的性能指标直接影响到整 个产品或设备 的质量， 因此电子元器件生产厂家在产品出厂前， 需对产品各项指标参数进 行测试， 用户也会默认取 得的产品符合 技术手册描述的指标参数。 [0003]在电子元器件的各项性能测试中， 管脚间对电压 的耐受能力， 即电子元器件的耐 电压测试， 是检验其性能是否合格的一项重要指标； 电子系统在运行中由于雷击、 误操作、 故障或参数匹配不当等原因， 常易引起系统中某些部分电压异常升高， 电子元器件的耐电 压测试， 主 要是考量电子元器件在异常高压下的承压能力。 [0004]在一些对可靠性有较高要求的项 目中， 用户需要对电子元器件进行二次筛查， 并 对重点电子元器件的重要指标参数做更为详细的测试与 记录， 以尽可能保证电子元器件装 机后整机的可靠性， 耐压测试已成为大部分电子元器件需要重点关注的测试项目。 [0005]因此， 如何设计一种可满足用户在高可靠应用下， 对电子元器件二次筛查的测试 数据记录、 存 储和比对等需求的电子元器件耐压测试系统， 是当下亟需解决的问题。 发明内容 [0006]本发明为解决上述问题， 提供了一种电子元器件的耐压测试系统， 通过测试工装、 高压电源、 控制器、 温度传感器、 湿度传感器、 电压变换器、 采集卡和上位机对电子元器件进 行耐压测试， 可满足用户对电子元器件二次筛查的测试 数据记录、 存 储和比对等需求。 [0007]为达到上述目的， 本 发明提出如下技术方案： 一种电子元器件的耐压测试系统， 包 括测试工装、 高压电源、 控制器、 温度传感器、 湿度传感器、 电压变换器、 采集卡和上位机； 测 试工装用于固定被测元器件并将 被测元器件与高压电源电连接； 高压电源与控制器电连接 并接收控制器的控制 信号； 温度传感器、 湿度传感器均与控制器电连接并用于将环境温度、 湿度信息发送给控制器； 电压变换器与高压电源电连接并用以将高压电源输出的电压衰减 为低压； 采集卡与电压变换器电连接并用以采集经电压变换器转换 的电压数据； 上位机同 时与控制 器和采集卡电连接并用以进行高压电源控制、 温湿度实时监控、 数据采集和数据 存储。 [0008]优选的， 测试工装包括夹持件和接线柱； 夹持件用于夹持固定被测元器； 接线柱用 以将被测元器件的待测管脚引出， 并通过导线从接线柱处将待测管脚连接至高压电源的输 出端。 [0009]优选的， 上位机包括控制模块、 显示模块、 通讯模块和存储模块； 控制模块用以接 收测试人员的控制指 令并将指 令分发至控制器或采集卡； 显示模块以人机交互界面的方式说　明　书 1/4 页 3 CN 115389886 A 3