(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 20212326 3798.3 (22)申请日 2021.12.23 (73)专利权人 无锡瀚科检测有限公司 地址 214000 江苏省无锡市新吴区景贤路 52号206室 (72)发明人 王华科　潘梦垚　周正平　 (74)专利代理 机构 长沙大珂知识产权代理事务 所(普通合伙) 4323 6 专利代理师 胡习 (51)Int.Cl. G01N 3/08(2006.01) G01N 3/02(2006.01) G01B 21/02(2006.01) (54)实用新型名称 一种托盘抗弯挠度值实时检测系统 (57)摘要 本实用新型公开了一种托盘抗弯挠度值实 时检测系统， 包括多个探针检测机构和托盘试验 机构； 每一探针检测机构包括升降平台、 抗压坏 底座和位移探针； 升降平台上磁性相吸有抗压坏 底座， 抗压坏底座内设有多个位移探针， 多个位 移探针伸出抗压坏底座； 托盘试验机构包括托盘 和抗压试验机； 托盘设于抗压试验机上， 托盘的 上端压接有抗压试验机平台， 抗压试验机平台对 托盘施加压力； 多个探针检测机构磁性相吸于一 基座上， 基座磁性相吸于抗压试验机的底板上， 多个位移探针的顶端与托盘的底端相接触。 本实 用新型提供的一种托盘抗弯挠度值实时检测系 统， 多个探针检测机构设在托盘下方， 组成多个 点的挠度检测， 最终形成一个实时检测系统， 测 量精度高且准确。 权利要求书1页 说明书4页 附图3页 CN 216560041 U 2022.05.17 CN 216560041 U 1.一种托盘抗弯挠度值实时检测系统， 其特征在于， 包括多个探针检测机构和托盘试 验机构； 每一探针检测机构包括升降平台(1)、 抗压坏底座(2)和位移探针(3)； 所述升降平台 (1)的上表面呈水平面， 所述升降平台(1)上磁性相吸有抗压坏底座(2)， 所述抗压坏底座 (2)内设有 多个位移探针(3)， 多个位移探针(3)伸出 所述抗压坏底座(2)； 所述托盘试验机构包括托盘(4)和抗压试验机(5)； 所述托盘(4)设于所述抗压试验机 (5)上， 所述托盘(4)的上端压接有抗压试验机平台(51)， 抗压试验机平台(51)对托盘(4)施 加压力； 多个探针检测机构磁性相吸于一基座(15)上， 所述基座(15)磁性相吸于所述抗压试验 机(5)的底板上， 多个位移探针(3)的顶端与所述 托盘(4)的底端相接触。 2.根据权利要求1所述的托盘抗弯挠度值实时检测系统， 其特征在于， 所述位移探针 (3)通过位移探针(3)座设于所述抗压坏底 座(2)内； 所述抗压坏底 座(2)上拧入有紧定螺钉 (6)且紧定螺钉(6)紧固压接在所述位移探针(3)座侧面上； 所述抗压坏底 座(2)内开设有与 位移探针(3)座相连通的缓冲空间(7)。 3.根据权利要求2所述的托盘抗弯挠度值实时检测系统， 其特征在于， 所述抗压试验机 平台(51)的底板上端面 嵌入固定设有第一磁铁块层(10)， 所述基座(15)中部嵌入固定设有 第二磁性块层(11)， 所述第一磁铁块层(10)与第二磁性块层(11)磁性相吸实现抗压试验机 平台(51)的底板与底座磁性相吸； 所述升降平 台(1)的底部平台下端面嵌入固定设有第三 磁铁块层(12)， 所述第三磁铁块层(12)与第二磁性块层(11)磁性相吸实现升降平台(1)与 基座(15)磁性相吸； 所述升降平台(1)的顶部平台上端面 嵌入固定设有第四磁铁块层(13)， 所述抗压坏底座(2)的底部嵌入固定设有第五磁铁块层， 所述第四磁铁块层(13)与第五磁 性块层(14)磁性相吸实现升降平台(1)与抗压坏底座(2)磁性相吸。 4.根据权利要求3所述的托盘抗弯挠度值实时检测系统， 其特征在于， 所述第四磁铁块 层(13)的上端面开设有若干道宽度与抗压坏底座(2)宽度尺寸相同的滑动槽， 所述抗压坏 底座(2)磁性相吸于一滑动槽内。 5.根据权利要求4所述的托盘抗弯挠度值实时检测系统， 其特征在于， 所述探针检测机 构具有4个， 分别设于所述基座(15)的四角位置； 每一抗压坏底座(2)内设有3个位移探针 (3)， 呈纵向平行排列。 6.根据权利要求5所述的托盘抗弯挠度值实时检测系统， 其特征在于， 每一所述抗压坏 底座(2)上设有压力传感器(8)， 所述压力传感器(8)上连接有压杆(9)； 所述压杆(9)的高度 低于所述 位移探针(3)的高度。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 216560041 U 2一种托盘抗弯挠度 值实时检测系统 技术领域 [0001]本实用新型 涉及一种检测系统， 尤其涉及一种托盘抗弯挠度值实时检测系统。 背景技术 [0002]现有托盘的挠度抗弯挠度值检测一般采用百分表来测量。 采用传统的百分表来测 量托盘挠度的缺点： (1)测试精度不高； (2)测量时在托盘下方百分表的工作姿态调整困难； (3)传统百分表高度调节繁琐， 难以保证测量杆与被测平面的垂直度； (4)百分表只能测量 托盘某一 位置的挠度值； (5)当百分表承受托盘压力过 大时， 没有百分表保护装置 。 实用新型内容 [0003]有鉴于此， 本实用新型提出了一种托盘抗弯挠度值实时检测系统。 [0004]为了实现上述目的， 本实用新型采用了如下技 术方案： [0005]一种托盘抗弯挠度值实时检测系统， 包括多个探针 检测机构和托盘试验机构； [0006]每一探针检测机构包括升降平台、 抗压坏底座和位移探针； 所述升降平台的上表 面呈水平面， 所述升降平台上磁性相吸有抗压坏底座， 所述抗压坏底座内设有多个位移探 针， 多个位移探针伸出 所述抗压坏底座； [0007]所述托盘试验机构包括托盘和抗压试验机； 所述托盘设于所述抗压试验机上， 所 述托盘的上端压 接有抗压试验机平台， 抗压试验机平台对托盘施加压力； [0008]多个探针检测机构磁性相吸于一基座上， 所述基座磁性相吸于所述抗压试验机的 底板上， 多个位移探针的顶端与所述 托盘的底端相接触。 [0009]优选的， 所述位移探针通过位移探针座设于所述抗压坏底座内； 所述抗压坏底座 上拧入有紧定螺钉且紧定螺钉紧固压接在所述位移探针座侧面上； 所述抗压坏底座内开设 有与位移探针座相连通的缓冲空间。 [0010]优选的， 所述抗压试验机平台的底板上端面嵌入固定设有第一磁铁块层， 所述基 座中部嵌入固定设有第二磁性块层， 所述第一磁铁块层与第二磁性块层磁性相吸实现抗压 试验机平台的底板与 底座磁性相吸； 所述升降平台的底部平台下端面嵌入固定 设有第三磁 铁块层， 所述第三磁铁块层与第二磁性块层磁性相吸实现升降平台与基座磁性相吸； 所述 升降平台的顶部平台上端面嵌入固定设有第四磁铁块层， 所述抗压坏底座的底部嵌入固定 设有第五磁铁块层， 所述第四磁铁块层与第五磁性块层磁性相吸实现升降平台与抗压坏底 座磁性相吸。 [0011]优选的， 所述第四磁铁块层的上端面开设有若干道宽度与抗压坏底座宽度尺寸相 同的滑动槽， 所述 抗压坏底座磁性相吸于一滑动槽内。 [0012]优选的， 所述探针检测机构具有4个， 分别设于所述基座的四角位置； 每一抗压坏 底座内设有3个位移探针， 呈纵向平行排列。 [0013]优选的， 每一所述抗压坏底座上设有压力传感器， 所述压力传感器上连接有压杆； 所述压杆的高度低于所述 位移探针的高度。说　明　书 1/4 页 3 CN 216560041 U 3