(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 20221040283 3.5 (22)申请日 2022.04.18 (71)申请人 杭州行芯科技有限公司 地址 310051 浙江省杭州市滨江区西兴街 道丹枫路399号3号楼1 1层 (72)发明人 何裕　焦吾振　胡超　曾宪强　 贺青　 (74)专利代理 机构 杭州华进联浙知识产权代理 有限公司 3 3250 专利代理师 何晓春 (51)Int.Cl. G06F 30/398(2020.01) G06F 30/33(2020.01) G06F 9/50(2006.01) G01R 27/26(2006.01) (54)发明名称 基于高斯面均匀采样的寄生电容提取方法 及装置 (57)摘要 本申请涉及一种基于高斯面均匀采样的寄 生电容提取方法、 装置、 电子装置及存储介质， 该 方法包括： 将目标导体所对应的高斯面的预设区 域划分为多个面积相等的面积元； 将所有面积元 分配给多个工作线程； 在工作线程进行随机行走 时， 在工作线程所对应的面积元上进行采样， 得 到工作线程所对应的面积元上的采样点； 从每个 采样点开始随机行走， 在所有工作线程结束随机 行走时， 计算目标导体所对应的寄生电容值。 通 过本申请， 解决了高斯面上的采样点分布不均匀 导致的寄生电容提取精度低的问题， 实现了在高 斯面上均匀采样， 进而提高寄生电容的提取精度 的技术效果。 权利要求书2页 说明书8页 附图2页 CN 114880985 A 2022.08.09 CN 114880985 A 1.一种基于高斯 面均匀采样的寄生电容 提取方法， 其特 征在于， 所述方法包括： 将目标导体所对应的高斯 面的预设区域划分为多个面积相等的面积元； 将所有面积元分配给多个工作线程； 在所述工作线程进行随机行走时， 在所述工作线程所对应的面积元上进行采样， 得到 所述工作线程所对应的面积元 上的采样点； 从每个采样点开始随机行走， 在所有工作线程结束随机行走时， 计算所述目标导体所 对应的寄生电容 值。 2.根据权利要求1所述的基于 高斯面均匀采样的寄生电容提取方法， 其特征在于， 所述 高斯面的预设区域包括所述高斯面的所有区域或者所述高斯面的部 分区域； 将目标导体所 对应的高斯 面的预设区域划分为多个面积相等的面积元包括： 获取与所述高斯 面的预设区域对应的随机行 走次数； 将所述目标导体所对应的高斯面的预设区域划分为多个面积相等的面积元， 其中， 所 述面积元的数量与所述高斯 面的预设区域所对应的随机行 走次数相同。 3.根据权利要求2所述的基于 高斯面均匀采样的寄生电容提取方法， 其特征在于， 将所 述目标导体所对应的高斯 面的预设区域划分为多个面积相等的面积元包括： 将所述目标导体所对应的高斯 面的预设区域 等间距的划分为多个面积相等的面积元。 4.根据权利要求1所述的基于 高斯面均匀采样的寄生电容提取方法， 其特征在于， 在所 述工作线程所对应的面积元上进 行采样， 得到所述工作线程所对应的面积元上的采样点包 括： 在所述工作线程所对应的面积元的数量等于1时， 所述工作线程在对应的面积元上进 行一次采样， 得到所述工作线程所对应的采样点； 在所述工作线程所对应的面积元的数量大于1时， 所述工作线程在对应的每个面积元 上均进行一次采样， 得到所述工作线程所对应的多个采样点。 5.根据权利要求4所述的基于 高斯面均匀采样的寄生电容提取方法， 其特征在于， 所述 工作线程在对应的面积元 上进行一次采样包括： 获取所述面积元的位置坐标； 获取第一随机数和第二随机数； 根据所述面积元的位置坐标， 以及所述第一随机数和所述第二随机数， 计算得到所述 采样点的位置坐标， 完成对所述 面积元的一次采样。 6.根据权利要求5所述的基于 高斯面均匀采样的寄生电容提取方法， 其特征在于， 所述 第一随机数和所述第二随机数均是从预设的数值区间中随机选取的； 根据所述面积元的位 置坐标， 以及所述第一随机数和所述第二随机数， 计算得到所述采样点的位置坐标包括： 通过关系式： (x1+r1*(x2 ‑x1)， y1+r2*(y2 ‑y1))， 确定所述采样点的位置坐标， 其中， (x1， y1， x2， y2)表示所述面积元在XOY平面上的位置坐标， r1表示所述第一随机数， r2表示 所述第二随机数。 7.根据权利要求1至6中任一项所述的基于 高斯面均匀采样的寄生电容提取方法， 其特 征在于， 将所有面积元分配给多个工作线程包括： 将所有面积元平均分配给多个工作线程， 将工作线程所对应的面积元存储到与所述工 作线程对应的存 储向量中。权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114880985 A 28.一种基于高斯 面均匀采样的寄生电容 提取装置， 其特 征在于， 所述装置包括： 划分模块， 用于将目标导体所对应的高斯面的预设区域划分为多个面积相等的面积 元； 分配模块， 用于将所有面积元分配给多个工作线程； 采样模块， 用于在所述工作线程进行随机行走时， 在所述工作线程所对应的面积元上 进行采样， 得到所述工作线程所对应的面积元 上的采样点； 计算模块， 用于从每个采样点开始随机行走， 在所有工作线程结束随机行走时， 计算所 述目标导体所对应的寄生电容 值。 9.一种电子装置， 包括存储器和处理器， 其特征在于， 所述存储器中存储有计算机程 序， 所述处理器运行所述计算机程序以执行权利要求 1至7中任一项 所述的基于高斯面均匀 采样的寄生电容 提取方法。 10.一种存储介质， 其特征在于， 所述存储介质中存储有计算机程序， 其中， 所述计算机 程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的基于高斯面均匀采样的寄生电容 提取方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114880985 A 3