(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202221566486.1 (22)申请日 2022.06.22 (73)专利权人 武汉精立电子技 术有限公司 地址 430205 湖北省武汉市东湖新 技术开 发区流芳园南路2 2号 专利权人 武汉精测电子集团股份有限公司 (72)发明人 李渊　王雷　毛涌　余鑫　江宝焜　 (74)专利代理 机构 武汉东喻专利代理事务所 (普通合伙) 42224 专利代理师 雷霄 (51)Int.Cl. G01N 21/95(2006.01) G01N 21/01(2006.01) G01M 11/02(2006.01) (54)实用新型名称 一种Micro LED显示 面板缺陷检测装置 (57)摘要 本实用新型 公开了一种Micro  LED显示面板 缺陷检测装置， 包括： 色彩分析仪、 面阵式色度 计、 面阵式相机、 控制模块和数据处理器； 所述控 制模块的第一端与所述色彩分析仪电连接， 所述 控制模块的第二端与所述面阵式色度计电连接， 所述控制模块的第三端与所述面阵式相机电连 接； 所述数据处理器的第一端与所述色彩分析仪 电连接， 所述数据处理器的第二端与所述面阵式 色度计电连接， 所述数据处理器的第三端与所述 面阵式相机电连接。 本实用新型可以检测Micro   LED显示面板的多种缺陷。 权利要求书1页 说明书4页 附图1页 CN 217112128 U 2022.08.02 CN 217112128 U 1.一种Micro  LED显示面板缺陷检测装置， 其特 征在于， 包括： 色彩分析仪、 面阵式色度计、 面阵式相机、 控制模块和数据处 理器； 所述控制模块的第 一端与所述色彩分析仪电连接， 所述控制模块的第 二端与所述面阵 式色度计电连接， 所述控制模块的第三端与所述 面阵式相机电连接； 所述数据处理器的第 一端与所述色彩分析仪电连接， 所述数据处理器的第 二端与所述 面阵式色度计电连接， 所述数据处 理器的第三端与所述 面阵式相机电连接 。 2.如权利要求1所述的Micro  LED显示面板缺陷检测装置， 其特征在于， 还包括复判显 微相机， 所述控制模块的第四端与所述复判显微相 机电连接， 所述数据 处理器的第四端与 所述复判显微相机电连接 。 3.如权利要求1所述的Micro  LED显示面板缺陷检测装置， 其特征在于， 还包括压接导 通组件， 所述控制模块的第五端与所述压 接导通组件电连接 。 4.如权利 要求1所述的Micro  LED显示面板缺 陷检测装置， 其特征在于， 还包括： 用于承 载显示面板的载台和用于调节所述载台空间位置的第一运动单元， 所述第一运动单元与所 述控制模块电连接 。 5.如权利 要求1所述的Micro  LED显示面板缺 陷检测装置， 其特征在于， 还包括： 用于承 载所述色彩分析仪的第一支架和用于调节所述第一支架空间位置的第二运动单元， 所述第 二运动单元与所述控制模块电连接 。 6.如权利 要求1所述的Micro  LED显示面板缺 陷检测装置， 其特征在于， 还包括： 用于承 载所述面阵式色度计的第二支架和用于调节所述第二支架空间位置的第三运动单元， 所述 第三运动单元与所述控制模块电连接 。 7.如权利要求1所述的Micro  LED显示面板缺陷检测装置， 其特征在于， 还包括信号发 生器， 所述信号发生器与所述控制模块电连接 。 8.如权利要求4所述的Micro  LED显示面板缺陷检测装置， 其特征在于， 还包括机架和 减震器， 所述载台通过 所述减震器与所述机架连接， 所述 面阵式相机设置在所述机架上。 9.如权利要求1所述的Micro  LED显示面板缺陷检测装置， 其特征在于， 还包括用于输 出gamma校正数据给显示 面板的输出接口。 10.如权利 要求1所述的Micro  LED显示面板缺陷检测装置， 其特征在于， 所述面阵式色 度计具有第一分辨率和第一解析度， 所述面阵式相 机具有第二分辨率和第二解析度， 所述 第一分辨 率高于第二分辨 率， 所述第一 解析度低于所述第二 解析度。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 217112128 U 2一种Micro  LED显示面板缺陷检测装 置 技术领域 [0001]本申请涉及 显示面板技术领域， 更具体地， 涉及一种Micro  LED显示面板缺陷检测 装置。 背景技术 [0002]Micro LED显示面板 凭借其优异的显示性能， 已经成为目前业内最好的显示技术。 但受到巨量转移键合工艺下的转移良率影响， 即使转移良率达到99.99%， 对于4K屏体而言， 也有数千颗芯片异常， 对Micro  LED面板的显示性能大打折扣。 因此， 在巨量转移后需要对 Micro LED面板进行基于AOI技术的画质检测技术， 检测出异常LED并进行定位， 将数据提供 给Micro LED修复设备进行修复， 以提高Micro  LED面板的良率和品质。 [0003]现有的技术方案基于常规的工业相机， 通过相机拍摄面板图像找出异常的LED灯 珠， 能够检测出来的缺陷有限。 实用新型内容 [0004]针对现有技术 的至少一个缺陷或改进需求， 本实用新型提供了一种Micro  LED显 示面板缺陷检测装置， 可以检测Micro  LED显示面板的多种缺陷。 [0005]为实现上述目的， 本实用新型提供了一种Micro  LED显示面板缺陷检测装置， 包 括： [0006]色彩分析仪、 面阵式色度计、 面阵式相机、 控制模块和数据处 理器； [0007]所述控制模块的第一端与所述色彩分析仪电连接， 所述控制模块的第二端与所述 面阵式色度计电连接， 所述控制模块的第三端与所述 面阵式相机电连接； [0008]所述数据处理器的第一端与所述色彩分析仪电连接， 所述数据处理器的第二端与 所述面阵式色度计电连接， 所述数据处 理器的第三端与所述 面阵式相机电连接 。 [0009]进一步地， Micro  LED显示面板缺陷检测装置还包括复判显微相机， 所述控制模块 的第四端与所述复判显微相机电连接， 所述数据处理器的第四端与所述复判显微相机电连 接。 [0010]进一步地， Micro  LED显示面板缺陷检测装置还包括压接导通 组件， 所述控制模块 的第五端与所述压 接导通组件电连接 。 [0011]进一步地， Micro  LED显示面板缺陷检测装置还包括： 用于承载显示面板的载台和 用于调节所述载台空间位置的第一 运动单元， 所述第一 运动单元与所述控制模块电连接 。 [0012]进一步地， Micro  LED显示面板缺陷检测装置还包括： 用于承载所述色彩分析仪的 第一支架和用于调节所述第一支架空间位置的第二运动单元， 所述第二运动单元与所述控 制模块电连接 。 [0013]进一步地， Micro  LED显示面板缺陷检测装置还包括： 用于承载所述面阵式色度计 的第二支架和用于调节所述第二支架空间位置的第三运动单元， 所述第三运动单元与所述 控制模块电连接 。说　明　书 1/4 页 3 CN 217112128 U 3