(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211004527.2 (22)申请日 2022.08.22 (71)申请人 马鞍山钢铁股份有限公司 地址 243000 安徽省马鞍山市九华西路8号 (72)发明人 王艳阳　陈军　后宗保　喻能利　 赵志海　王怀伟　夏冰　汪良俊　 付声丽　王仲琨　 (74)专利代理 机构 马鞍山市金桥专利代理有限 公司 341 11 专利代理师 陈超强 (51)Int.Cl. G01N 21/84(2006.01) G01N 1/28(2006.01) G01N 1/32(2006.01) (54)发明名称 一种高碳钢盘条中心偏析评 定的方法 (57)摘要 本发明公开了一种高碳钢盘条中心偏析评 定的方法， 涉及钢铁测试技术领域。 该高碳钢盘 条中心偏析评定的方法， 用于高碳钢盘条试样的 中心偏析的评定。 该高碳钢盘条中心偏析评定的 方法将直径6.5mm～2 0mm等不同规格盘 条的中心 偏析计算， 可以在100或50倍金相显微镜下测量 不同规格大小高碳钢盘条中心偏析。 不仅避免直 接比对图谱造成的检验效率低， 检测人员主观影 响大， 检验误差大， 容易错检； 还在没有体视显微 镜的试验条件 下， 快速准确的完成高碳钢盘条中 心偏析评定， 并有效地帮助金相检测人员， 快速 掌握高碳钢盘条中心偏析评 定。 权利要求书2页 说明书5页 附图2页 CN 115356340 A 2022.11.18 CN 115356340 A 1.一种高碳钢盘条中心偏析评定的方法， 用于高碳钢盘条试样的中心偏析的评定， 其 特征在于： 所述试样的尺寸a， 包括如下步骤： 步骤一： 将被腐蚀过表面的试样放在光学显微镜下观察， 所述光学显微镜上设置有刻 度尺， 所述刻度尺用于测量中心偏析区域的尺寸b； 步骤二： b/a得 出中心偏析系数c； 步骤三： 根据偏析系数c判断该 试样的中心偏析级别。 2.根据权利要求1所述的一种高碳钢盘条中心偏析评定的方法， 其特征在于： 所述刻度 尺设置在光学显微镜的目镜上。 3.根据权利要求1所述的一种高碳钢盘条中心偏析评定的方法， 其特征在于： 所述中心 偏析级别 参考YB/T4413 ‑2014标准， 如中心偏析区域视为圆形按照A类、 B类评定标准； 如心 偏析区域视为 直线按照C类评 定标准。 4.根据权利要求3所述的一种高碳钢盘条中心偏析评定的方法， 其特征在于： 所述A类 评定标准与偏析系数c的关系： 当c＝0时， 级别为0； 当0＜c≤0.05时， 级别为1； 当0.05＜c≤0.066时， 级别为2； 当0.066＜c≤0.082时， 级别为3； 当0.082＜c ≤0.096时， 级别为 4。 5.根据权利要求3所述的一种高碳钢盘条中心偏析评定的方法， 其特征在于： 所述B类 评定标准与偏析系数c的关系： 当c＝0时， 级别为0； 当0＜c≤于0.05时， 级别为1； 当0.05＜c≤0.071时， 级别为2； 当0.071＜c ≤0.092时， 级别为3； 当0.092＜c≤0.11时， 级别为 4。 6.根据权利要求3所述的一种高碳钢盘条中心偏析评定的方法， 其特征在于： 所述C类 评定标准与偏析系数c的关系： 当c＝0时， 级别为0； 当0＜c≤于13.87％时， 级别为1； 当13.87％＜c ≤16.64％时， 级别为2； 当16.64％＜c ≤18.39％时， 级别为3； 当18.39％＜c ≤23.85％时， 级别为 4。 7.根据权利要求1所述的一种高碳钢盘条中心偏析评定的方法， 其特征在于： 所述a、 b 为直径、 半径、 长度中的一种。 8.根据权利要求1所述的一种高碳钢盘条中心偏析评定的方法， 其特征在于： 所述试样 通过如下步骤得到： 步骤一： 取样， 待测量试样按照GB/T13298 ‑2015标准规定的方法进行截取、 切割得到试 样； 步骤二： 制样， 在试样的表面按照GB/T132 98‑2015标准 规定的方法进行磨制、 抛光；权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115356340 A 2步骤三： 浸蚀， 抛磨后的试样在2％～4％硝酸酒精中浸泡10土5秒， 使得试样被腐蚀， 将 腐蚀后的试样洗净、 吹干， 以显示钢的组织形貌 。 9.根据权利要求8所述的一种高碳钢盘条中心偏析评定的方法， 其特征在于： 所述步骤 一中， 采用金相切割机或车床切割试样。 切取试样时应避开因剪切、 加热影响的区域， 不能 使用有改变组织形貌的方法切取 试样。 10.根据权利要求8所述的一种高碳钢盘条中心偏析评定的方法， 其特征在于： 所述试 样磨制包括磨平和磨光两道工序， 截取后的试样在落地砂轮上进行粗磨， 并在粗磨时蘸水 冷却， 以防止组织变化； 将粗磨后的试样通过由粗到细的一组金相砂纸进行细磨或采用金相试样预磨机进行 细磨， 以便将试样上存在的较深磨痕以及表面加工变形层磨光， 在金相试样预磨 机细磨时， 用水冷却磨面， 避免磨面过 热； 试样的抛光包括粗抛和精抛两道工序， 将细磨后试样在金相试样抛光机上粗抛， 粗抛 时在抛光盘加水， 防止试样表面过 热； 将粗抛后试样采用更细的抛光剂精抛， 精抛时在抛光盘加水， 防止试样表面过 热。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115356340 A 3