(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210932357.8 (22)申请日 2022.08.04 (71)申请人 国网安徽省电力有限公司信息通信 分公司 地址 210003 江苏省南京市 鼓楼区南瑞路8 号 申请人 南京南瑞国盾量子技 术有限公司 　 南京南瑞信息通信科技有限公司 (72)发明人 李振伟　冯宝　于浩　陆俊　 卞宇翔　张天兵　胡丹　崔亮节　 汪辉　郭子昕　孙圣武　巨克真　 贾玮　 (74)专利代理 机构 南京纵横知识产权代理有限 公司 32224 专利代理师 史俊军(51)Int.Cl. H04L 9/08(2006.01) G06N 10/80(2022.01) (54)发明名称 一种探测器缺陷分析方法、 系统、 存储介质 及计算设备 (57)摘要 本发明公开了一种探测器缺陷分析方法、 系 统、 存储介质及计算设备， 本发明基于不同基下 的单光子探测器测量结果构建考虑后脉冲和死 时间的密钥率模 型， 根据模型实现探测器缺陷分 析， 可为实际环境下的量子密钥分配网络构建提 供有价值的参考。 权利要求书3页 说明书10页 附图4页 CN 115314193 A 2022.11.08 CN 115314193 A 1.一种探测器缺陷分析 方法， 其特 征在于， 包括： 获取不同基下的单光子 探测器测量结果； 根据不同基下的单光子 探测器测量结果， 构建考虑后脉冲和死时间的密钥率模型； 根据考虑后脉冲和死时间的密钥率模型， 进行探测器缺陷分析。 2.根据权利要求1所述的一种探测器缺陷分析方法， 其特征在于， 获取不同基下的单光 子探测器测量结果包括： 基于RFI协议， 获取不同基下的单光子 探测器测量结果。 3.根据权利要求1或2所述的一种探测器缺陷分析方法， 其特征在于， 不同基下的单光 子探测器测量结果包括获取ZZ基的单光子探测器测量结果、 XX基的单光子探测器测量结 果、 XY基的单光子探测器测量结果、 YX基的单光子探测器测量结果、 以及YY基的单光子探测 器测量结果。 4.根据权利要求3所述的一种探测器缺陷分析方法， 其特征在于， 考虑后脉冲和死时间 的密钥率模型为后脉冲概 率、 死时间、 系统重复频率与密钥率关系的模型， 公式为： 其中， l为密钥率， sZ,0为Z基的零光子计数， sZ,1为Z基的单光子计数， λEC为纠错信息损 耗， εsec为安全系数， εcor为保密系数； IE为考虑后脉冲和死时间对测量影响的窃听者信息 量， H为二元熵函数， φ、 均为关于 IE中间值C和 的函数， C＝(1 ‑2EXX)2+(1‑2EXY)2+(1‑2EYX)2+(1‑2EYY)2， EXX为XX基下的量 子比特误码率， EXY为XY基下的量子比特误码率， EYX为YX基下的量子比特误码率， EYY为YY基 下的量子比特误码率； 为考虑后脉冲和死时间对测量影响ZZ基下的单光子比特误码率的上界， μ, υ,w为 三种光强； 为考虑后脉冲和死时间对测量 影响ZZ基下的诱骗态量子比特误码率， 为基于死时间的校正系数， f为 系统重复频率， 为Z基下 μ, υ,w光强的概率总和， τdt为死时间， Pυ为光强为 υ的概率， PAZ权　利　要　求　书 1/3 页 2 CN 115314193 A 2为发送端发送ZZ基的概率， PBZ为接收端接受ZZ基的概率， ed为本底误差， 为ZZ基下的 诱骗态单光子比特误码率， Pap为后脉冲概 率； Eω＝cdtPωPAZPBZE′ω为考虑死时间的真空态比特误码率， E ′ω为没有考虑死时间的真空 态比特误码率， Pω为光强为ω的概 率； Qω＝cdtPωPAZPBZQ′ω为考虑死时间的真空态增益， Q ′ω为没有考虑死时间的真空态增益； 为考虑后 脉冲和死时间对测量影响ZZ基 υ光强下的诱骗态增益， d为单光子探测器的暗计数率， η为系 统的传输效率， e1为单光子 探测器效率； 为考虑 后脉冲和死时间对测量影响Z Z基 μ光强下的诱骗态增益。 5.一种探测器缺陷分析系统， 其特 征在于， 包括： 获取模块， 获取不同基下的单光子 探测器测量结果； 模型构建模块， 根据不同基下的单光子探测器测量结果， 构建考虑后脉冲和死时间的 密钥率模型； 分析模块， 根据考虑后脉冲和死时间的密钥率模型， 进行探测器缺陷分析。 6.根据权利要求5所述的一种探测器缺陷分析系统， 其特征在于， 获取模块， 基于RFI协 议， 获取不同基下的单光子 探测器测量结果。 7.根据权利要求5或6所述的一种探测器缺陷分析系统， 其特征在于， 不同基下的单光 子探测器测量结果包括获取ZZ基的单光子探测器测量结果、 XX基的单光子探测器测量结 果、 XY基的单光子探测器测量结果、 YX基的单光子探测器测量结果、 以及YY基的单光子探测 器测量结果。 8.根据权利要求7所述的一种探测器缺陷分析系统， 其特征在于， 模型构建模块构建的 考虑后脉冲和死时间的密钥率模型为后脉冲概率、 死时间、 系统重复频率与密钥率关系的 模型， 公式为： 其中， l为密钥率， sZ,0为Z基的零光子计数， sZ,1为Z基的单光子计数， λEC为纠错信息损 耗， εsec为安全系数， εcor为保密系数； IE为考虑后脉冲和死时间对测量影响的窃听者信息 量， H为二元熵函数， φ、 均为关于权　利　要　求　书 2/3 页 3 CN 115314193 A 3